欢迎进入广研检测实验室!

客服咨询热线:

您当前的位置是:首页 > 新闻资讯

如何用X荧光法测硫含量?

作者:油品分析 来源:油品检测 时间:2010-04-01 10:03:17

  广研检测中心新增能量色散X射线荧光光谱法测定硫含量。

  方法概述:X射线荧光分析的基本原理是以高能X射线(一次X射线)轰击样品,将待测元素原子内壳层的电子逐出,使原子处于受激状态,10-12~10-15秒 后,原子内的原子重新配位,内层电子的空位由较外层 的电子补充,同时放射出特征X射线(二次X射线)。特征X射线波长λ和原子序数Z有一定关系:λ=K(Z-s)-2。测定这些特征谱线的波长或能量可作定性分析;测量谱线的强度,可求得该元素的含量。

  使用设备:牛津Lab-X3500SCL(牛津仪器公司是世界领先的科学仪器跨国集团公司)

  符合标准:ISO 20847, ISO 8754, ASTM D4294和IP336

  样品状态:液体、固体、粉末、半固体

  样品量:约13ml

  测定范围:ppm – 100%

  优点:与传统的燃灯法测硫相比,该方法快速、准确、 测定范围宽、自动化程度较高和不破坏样品。